<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>AFM on Five-Star Infrared Heating Systems</title>
		<link>http://ir-heater-star.com/th/tags/afm/</link>
		<description>Recent content in AFM on Five-Star Infrared Heating Systems</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>th</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Wed, 17 Jun 2026 11:18:54 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://ir-heater-star.com/th/tags/afm/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>เครื่องทำความร้อนสำหรับกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (Atomic Force Microscope)</title>
				<link>http://ir-heater-star.com/th/posts/afm-atomic-force-microscope-heater/</link>
				<pubDate>Wed, 17 Jun 2026 11:18:54 +0800</pubDate>
				<guid>http://ir-heater-star.com/th/posts/afm-atomic-force-microscope-heater/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heater-star.com/images/1764273a9805a56244015746cb190d47.png&#34; alt=&#34;เครื่องทำความร้อนสำหรับกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (Atomic Force Microscope)&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;ในระหว่างการวัด ความผันแปรของอุณหภูมิบนแท่น AFM จะแสดงออกมาในรูปของเสียงรบกวนในการวัด แค่ความผันแปรเพียงครึ่งองศาก็เพียงพอที่จะทำให้ตำแหน่งขอบของวัสดุเปลี่ยนไป ส่งผลให้โปรไฟล์ของสารโฟโตเรซิสต์เปลี่ยนไป และทำให้ชิ้นส่วนที่มีคุณภาพดีต้องถูกส่งไปปรับปรุงใหม่ ดังนั้นเราจึงออกแบบเครื่องทำความร้อนสำหรับ AFM ขึ้นมา เพื่อรักษาอุณหภูมิของหัววัดและตัวอย่างให้อยู่ในระดับที่กำหนด โดยไม่ต้องให้ระบบพยายามปรับอุณหภูมิตลอดเวลา&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;&lt;strong&gt;สิ่งที่สำคัญจริงๆ&lt;/strong&gt;&lt;br&gt;&#xA;เราเน้นไปที่ความสามารถในการตอบสนองที่รวดเร็วและมีเสถียรภาพ อุปกรณ์นี้ใช้แสงอินฟราเรดความยาวคลื่นสั้น ร่วมกับหน้าต่างควอตซ์เพื่อให้แสงผ่านได้อย่างมีประสิทธิภาพ โดยมีกำลังไฟฟ้า 150 วัตต์ อุปกรณ์นี้มีระบบควบคุมแบบลูปปิด โดยมีเซ็นเซอร์ที่ช่วยรักษาอุณหภูมิให้อยู่ในช่วง ±0.1°C ตัวเครื่องสามารถใช้งานได้ในห้องที่มีมาตรฐานความสะอาดระดับ Class 1–100 โดยใช้วัสดุที่มีการปล่อยก๊าซน้อย และมีพื้นผิวที่ไม่ก่อให้เกิดฝุ่น ความสามารถในการทำซ้ำการวัดอยู่ในช่วง ±0.05°C หลังจากการทดสอบอุณหภูมิหลายครั้ง ดังนั้นค่าที่ได้จึงมีความสม่ำเสมอจากชุดผลิตภัณฑ์หนึ่งไปยังอีกชุดหนึ่ง&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;เหตุผลที่อุปกรณ์นี้มีประสิทธิภาพในการวัดในกระบวนการลิโทกราฟีและการวัดโฟโตเรซิสต์ก็คือ อุปกรณ์นี้ช่วยรักษาอุณหภูมิของวัสดุก่อนการสแกน ทำให้ไม่มีความผันแปรของความกว้างของเส้นขอบ ในกระบวนการบรรจุภัณฑ์ อุปกรณ์นี้ช่วยให้สามารถวัดคุณสมบัติทางอุณหภูมิของวัสดุได้อย่างแม่นยำ โดยไม่ทำให้โครงสร้างที่บางเกินไปเกิดรอยแตก สิ่งที่ได้รับก็คือ จำนวนครั้งในการทดลองลดลง มีขยะน้อยลง และอุณหภูมิก็คงที่ นอกจากนี้ การใช้พลังงานก็ลดลงด้วย เนื่องจากอุปกรณ์สามารถรักษาอุณหภูมิได้อย่างรวดเร็ว และมีกำลังไฟฟ้าในขณะพักน้อย&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;การติดตั้งอุปกรณ์นี้ทำได้ง่าย แต่สิ่งสำคัญคือการเชื่อมต่อระหว่างอุปกรณ์กับแท่นวัด แท่นวัดจำเป็นต้องมีพื้นผิวที่เรียบและสะอาด แม้แต่ช่องว่างเล็กๆ ก็อาจส่งผลต่อความสม่ำเสมอของอุณหภูมิได้ อุปกรณ์นี้สามารถใช้งานได้กับแพลตฟอร์ม AFM ส่วนใหญ่ แต่หากต้องการเชื่อมต่อกับคอนโทรลเลอร์รุ่นเก่า ก็อาจจำเป็นต้องมีขั้วต่อที่เหมาะสมและตารางสำหรับการปรับค่า ควรทำการทดสอบอุณหภูมิเล็กน้อยเพื่อให้ทราบค่าอุณหภูมิของแท่นวัด จากนั้นจึงกำหนดค่าอุณหภูมิที่เหมาะสมไว้&lt;/p&gt;&#xA;&lt;iframe width=&#34;560&#34; height=&#34;315&#34; src=&#34;https://www.youtube.com/embed/J8jK5-ibr6o?feature=oembed&#34; title=&#34;เครื่องทำความร้อนสำหรับกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (Atomic Force Microscope)&#34; frameborder=&#34;0&#34; allow=&#34;accelerometer; [autoplay](https://o-yate.net); clipboard-write; encrypted-media; [gyroscope](https://goldisgood.com); picture-in-picture; web-share&#34; referrerpolicy=&#34;strict-origin-when-cross-origin&#34; allowfullscreen&gt;&lt;/iframe&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
